客服
留言
欢迎光临上海承盛电子科技有限公司
English
网站首页
"
关于承盛
公司管理
质量管理
企业文化
合作伙伴
新闻资讯
公司证书
新品发布
产品中心
半导体探针
ICT测试探针
高频探针
光伏探针
测试模组
其他
技术优势
ICT测试解决方案
RF测试解决方案
极细间距解决方案
研发
机械参数
电学参数
电器机械性能
探针知识
联系我们
首页
网站首页
"
关于承盛
公司管理
质量管理
企业文化
合作伙伴
新闻资讯
公司证书
新品发布
产品中心
半导体探针
ICT测试探针
高频探针
光伏探针
测试模组
其他
技术优势
ICT测试解决方案
RF测试解决方案
极细间距解决方案
研发
机械参数
电学参数
电器机械性能
探针知识
联系我们
联系客服
Loading…
技术优势
极细间距解决方案
Murata测试解决方案
I-PEX测试解决方案
OSP线路板测试解决方案
过孔测试解决方案
查看更多
联系我们
地址:上海市松江区莘砖公路518号（漕河泾开发区）11号楼2D
电话:021-64981535
邮箱:sales@chipshine.com
详细联系方式
返回列表
您当前的位置:
首页
>
技术优势
>
RF测试解决方案
2021/3/11
I-PEX测试解决方案
I-PEX设计的测试解决方案。
A=pad点的信号传输
B =接地
我们将使用平面接触地面,使这个狭窄的空间成为射频屏蔽盒,使用不同类型测试板。
我们使用特殊材料在中心轴。这种材料具有较高的阻抗-超过500莫姆。这将保证信号传输