客服

留言

欢迎光临上海承盛电子科技有限公司

English

返回列表

您当前的位置:首页 > 产品中心

2D
3D

Hast试验测试系统Hast试验测试系统

库存:10000

价格:

1~100:

0.00

100~1000:

0.00

1000~5000:

0.00

5000~10000:

0.00

产品详情
下载

探针规格:

材料规格:

规格参数：

Pitch： 0.4mm

电压： 100V d.c

电流： 2A

介质耐电压：1000V a.c

接触电阻： 60mΩ（AVG）

绝缘电阻： ≥5000MΩ

寿命： 5000小时

工作温度： -55~150℃

塑料件材质：陶瓷PEEK

探针材质： Pd Alloy、BeCu

特点：

1.旋钮压盖式设计供手工或自动载卸芯片

2.可凭视觉准确地装载芯片

3.可靠性高，探针预先加载

4.测试温度范围-55~150℃

5.盖板上有窗口，提供较大气流

无

关于我们

公司管理质量管理企业文化合作伙伴

新闻动态

公司新闻行业新闻

加入我们

招聘信息

支付方式

联系我们

	TELEPHONE 021-64981535
	上海市松江区莘砖公路518号（漕河泾开发区）11号楼2D
	邮箱：sales@chipshine.com

ChipShine.com ©Copyright © 2016-2024 上海承盛沪ICP备16053065号-1 上海承盛电子科技有限公司版权所有

在线咨询

ICT探针咨询

半导体探针咨询

高电流探针咨询

PCB探针咨询

其他探针咨询

请您留言

上海承盛电子科技有限公司021-64981535

提交