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独立温控老化测试座独立温控老化测试座

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探针规格:

探针阻抗: 100mΩ（AVG）

操作温度: -55~150℃

材料规格:

特点：

1、旋钮压盖式设计供手工或自动载卸芯片

2、可凭视觉准确地装载芯片

3、可靠性高，探针预先加载

4、测试温度范围-55~150℃

5、独立温控，可调节芯片测试温度

Pitch	0.9mm
电性能	电压	100V d.c
	电流	3A
介质耐电压		1000V a.c
接触电阻		100mΩ（AVG）
绝缘电阻		≥5000MΩ
芯片功耗		150W
寿命		3000小时
工作温度		-55~150℃
材质	散热	紫铜
	测试盖	AL6061
	主体	陶瓷PEEK
	探针	BeCu

无

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